半导体器件扫频振动试验

半导体器件扫频振动试验

中科检测环境可靠性实验中心拥有各种半导体器件机械和气候试验设备，具备扫频振动试验能力，为半导体器件、设备提供专业的扫频振动试验服务。
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半导体器件扫频振动试验 试验背景

半导体器件扫频振动试验目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响，属于破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
中科检测环境可靠性实验中心拥有各种半导体器件机械和气候试验设备，具备扫频振动试验能力，为半导体器件、设备提供专业的扫频振动试验服务。

半导体器件扫频振动试验 试验方式

样品应刚性地安装在振动台上，引出端和电缆也应安全固定，以避免引人额外的引线共振。应使样品做简谐振动，其振幅两倍幅值为1.5 mm（峰-峰值） ，或其峰值加速度为200 m/s2 ，取较小者。 振动频率在20 Hz~2 000 Hz范围内近似对数变化。
从20 Hz~2 000 Hz再回到20 Hz的整个频率范围的振动时间不应少于4 min。在X、Y和Z 3个方向上各进行4次这样的循环（共12次）。

半导体器件扫频振动试验 试验标准

GB/T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法 第1部分：总则
GB/T 4937.12-2012 半导体器件机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
GB/T 2423.10-2008电工电子产 品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）
IEC 60749-12 ：2002 半导体器件机械和气候试验方法 第12部分： 扫频振动

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