地质仪器长霉试验

地质仪器长霉试验

中科检测可靠性实验中心具备各种地质仪器产品的环境试验能力,为地质仪器产品提供专业的长霉试验服务。
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地质仪器长霉试验 试验背景

长霉试验就是检测产品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生长的条件下(即高湿温暖的环境中和有无机盐存在的条件下),设备是否受到霉菌的有害影响。 地质仪器长霉试验目的在于确定其在有霉菌生长地区使用、运输和贮存时,长霉程度对产品及其材料性能的影响,以评价产品对长霉的适应性。
中科检测可靠性实验中心具备各种地质仪器产品的环境试验能力,为地质仪器产品提供专业的长霉试验服务。

地质仪器长霉试验 试验方法

试验方法1:经过28 d培养以后,确定:
1、外观检查确定霉菌生长程度;
2、长霉引起的物理损伤;
3、长霉条件下对功能和/或电性能的影响,如果相关规范中有要求。如果相关规范要求检查功能和/或测量电性能,培养期应延长至56 d。
试验方法2:用营养液对样品预处理后,进行为期28 d的培养,确定:
1、外观检查确定霉菌生长程度;
2、长霉引起的物理损伤;
3、长霉条件下对功能和/或电性能的影响,如果相关规范中有要求。
通过使用营养液来模拟污染未长霉的样品,会降低样品表面的防霉性能。
如果检查功能和/或测量电气性能,宜考虑该影响。 使用营养液就会发生长霉,如果没有长霉,宜考虑防霉剂的影响。

地质仪器长霉试验 试验标准

DZ 0039.1-1992 地质仪器产品基本环境试验条件及方法 总则
DZ 0039.14-1992 地质仪器产品基本环境试验条件及方法 长霉试验
GB/T 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J及导则:长霉
GB/T 12085.11-2022 光学和光子学 环境试验方法 第11部分:长霉
GB/T 32065.9-2019 海洋仪器环境试验方法 第9部分:长霉试验
CB 1146.9-1996 舰船设备环境试验与工程导则 霉菌
JB/T 5750-2014 气象仪器防盐雾、防潮湿、防霉菌 工艺技术要求