光学仪器耐压试验

中科检测可靠性实验中心具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力，为光学和光子学仪器产品提供专业的等环境试验服务。

我们的服务专项服务 光学仪器耐压试验

光学仪器耐压试验试验背景

光学和光子学仪器在改变环境温度时，其内表面可能会出现水膜，这会导致光学性能大大降低或加剧，诸如出现腐蚀和发霉等影响。
光学和光子学仪器耐压试验目的是研究试样的光学、气候、机械、化学和电气（包括静电）等特性受到环境气体高压、低压或浸没影响的变化程度，检验其耐压性能。
中科检测可靠性实验中心具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力，为光学和光子学仪器产品提供专业的等环境试验服务。

光学仪器耐压试验试验范围

所有光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件（如机械、化学和电子设备）

光学仪器耐压试验试验方法

高内压试验条件方法适合于因使用和运输而暴露在一个最高压力的严酷环境试验。
而暴露在低温高压或者外高压的环境中的仪器必须进行低内压试验（低内压试验也用于污染或不断增加的内部湿度下）。
裸潜或在水下的仪器应进行浸没试验。

光学仪器耐压试验试验标准

GB/T 12085.1-2022 光学和光子学环境试验方法第1部分：术语、试验范围
ISO 9022-1：2016光学和光子学环境试验方法第1部分：术语、试验范围
GB/T 12085.8-2022 光学和光子学环境试验方法第8部分：高内压、低内压、浸没
ISO 9022-8：2015光学和光子学环境试验方法第8部分：高内压、低内压、浸没
DIN ISO 9022-8：2015光学和光子学环境试验方法第8部分：高内压、低内压、浸没
BS ISO 9022-8：2015光学和光子学环境试验方法第8部分：高内压、低内压、浸没
KS B ISO 9022-8：2015光学和光子学环境试验方法第8部分：高内压、低内压、浸没